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美国International Light辐照度计SED005-UVF-A313
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美国ILT2400辐照计SED005/UVF/A313探头UV LED能量计350-400nm

International Light ILT2400辐照计及SED005/UVF/A313探头专门为提高UV LED曝光机测量系统精确度而设计,在UV固化作用光谱350~400nm区域提供更均匀的响应,辐照度测量范围0.05μW/cm2~800mW/cm2,可添加峰值波长的PIR校准过滤片,带美国NIST可溯源ISO17025认证校准报告。

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美国ILT品牌为各种市场和应用提供高精度的光测量系统,包括照度计、辐照计、能量计,满足广泛的需求,解决光测量的固有困难。国际光学International Light测光表非常适合用作光度计photometers (勒克斯lux meters)、强度计intensity meters (坎德拉candela)、固化测量仪/辐照度计/光量计curing meters (剂量和曝光测量dose and exposure meters)、能量功率计power meters (瓦或流明watts or lumens)和flash meters (Xenon or LED strobe lamps)。

 

ILT UV固化测量辐照计ILT2400带NIST可溯源ISO17025认证校准的仪表和传感器,测量速度高达100μs,内置可充电电池持续长达8小时,4.3寸触摸屏显示,可横向和纵向观看,以手持式的价格提供研究级的质量。

 

大多数UV紫外线探头过滤器具有钟形光谱曲线,峰值相当窄。为了提高UV LED测量系统的精确度,美国ILT公司将高度稳定的InGaAsp传感器与平坦的玻璃滤光片和石英漫射片相结合,在用于UV固化的关键区域提供更均匀的响应。ILT2400辐照计+SED005/UVF/A313探头组成的测量系统旨在简化对UV LED曝光机固化的校准测量,专有的传感器/滤波器/光学组件由美国ILT的工程团队设计,可提供350-400 nm波段近乎平坦的响应。这种平坦的一致的响应允许测量和比较各种紫外LED波长,而不需要修改读数以适应传感器灵敏度的变化。这个系统也可以用来测量传统的紫外线源。

 

美国International Light SED005/UVF/A313 UV-LED固化探头规格

应用:UV LED固化测量、传统紫外线固化能量辐照度

测量范围: 5e-8至8e-1 W / cm2(0.05μW/cm2 ~ 800mW/cm2)

光谱范围: 275-450nm (在UVLED主要作用波段350-400 nm具有平坦的响应曲线)

尺寸:直径29 x 42mm

订购部件号

ILT2400+SED005/UVF/A313(可选特定峰值波长的PIR校准,250-450nm /每1、2或5 nm的扫描校准也可用)

 

A313扩散器也可提供1、3、5和7毫米孔径,允许测量更小的区域,例如聚焦的光束,以便于区域测绘,并且还可以测量更高的强度。另有XSD005UVF薄型UV LED固化传感器,内置过滤器和光学元件,不能外部添加过滤片/光学交换元件,它的尺寸更小,为15 mm x 42 mm直径。ILT国际光学UV LED固化辐照计规格说明书http://www.testeb.com/download/201806/ILT2400_UVLED_SED005UVF.pdf

 

International Light国际光学UV固化测量辐照计型号参数表

辐照计探头测量系统 响应波长 辐照度范围 类型及应用
ILT800  CureRight辐照计
ILT800-UVA:315-390 nm
ILT800-BAV:275-475 nm
ILT800-UV:250-400 nm
ILT800-CUV:215-350 nm
ILT800-UVF:平坦响应
360-400 nm Flat, (275-450nm)
315-475 nm 5e-3 ~ 40 W/cm2 扁平,UV固化,UV烤箱,传送带曝光辐射
ILT2400, XSD340AT7 320-475 nm 8e-6 ~ 60 W/cm² 手持式,405nm紫外线UV固化,3D打印机
ILT2400, XSD340AT7, XIR395 395nm 8e-6 ~ 60 W/cm² 手持式,UV固化等,校准于395nm
ILT5000, SED005/WBS320/W 250-400 nm 2.33e-8 ~ 2.33 W/cm² 台式/实验室,UV固化,宽带紫外线
ILT2400, SED005/WBS320/W 250-400 nm 1e-7 ~ 1 W/cm² 手持式,UV固化,宽带紫外线
ILT5000, SED005/NS335/W 330-340 nm 5e-9 ~ 5 W/cm² 台式/实验室,UV固化,窄带335
ILT2400, SED005/NS335/W 330-340 nm 5e-7 ~ 5 W/cm² 手持式,UV固化,光辐射危害,窄带335
ILT5000/SED270/QT 215-350 nm 1e-9 ~ 1 W/cm² 台式/实验室,UV固化,UV LED
ILT5000, SED033/B/QNDS2/W 326-401 nm 3e-8 ~ 20 W/cm² 台式/实验室,UV固化,氙气闪光灯
ILT5000, SED005/WBS320/RAMP 250-400 nm 5e-7 ~ 100 W/cm² 台式,UV固化,Low profile high UV
ILT2400, SED005/WBS320/RAMP 250-400 nm 5e-7 ~ 100 W/cm² 手持式,UV固化,Low profile high UV
ILT1700, SSD001A 250-400 nm 2.22e-7 ~ 0.9 W/cm² 台式,UV固化,Low profile high UV
ILT2400, SSD001 260-400 nm 6e-6 ~ 0.9 W/cm² 手持式,UV固化,Low profile high UV
ILT2400/SED270/QT 215-350 nm 7e-8 ~ 1 W/cm2 手持式,UV固化,UV-LED能量计
ILT2400, SED005/UVF/A313辐照计 275-450 nm 5e-8 ~ 0.8 W/cm2 手持式,UV固化,UV LED曝光辐照计
ILT2400, XSD005UVF集成薄探头 275-450 nm 5e-8 ~ 0.8W/cm2  UVLED固化能量计 ,350-410nm平面响应
ILT5000, SED005/NS335-II/W 327-342 nm 3e-9 ~ 2 W/cm2 台式/实验室,UV固化,窄带335
ILT2400, SED005/NS335-II/W 327-342 nm 2e-7 ~ 2 W/cm2 手持式,UV固化,窄带335
ILT2470XE UV Flash Meter 215-350 nm 7e-5 ~ 2 W/cm2 手持式,UV固化,闪烁/脉冲或CW光源

 

美国ILT光探测器探头滤片/输入元件/校准项代码解析

A光刻胶过滤器:定制滤波器设计用于提供硅传感器的“A”响应(320-475 nm)

B光阻过滤器:滤波器旨在提供硅探测器的“B”响应(326-401 nm)

NS185窄带滤光片:紫外线,中心波长为185nm的干涉滤光片

NSXXX UV窄带滤光片:中心波长为XXX纳米的干涉滤光片,如NS254、NS313、NS335、NS365

QNDS1中性密度滤光片,10倍衰减;QNDS2 100倍、QNDS3 1000倍衰减过滤片

WBSXXX宽带滤光片:中心波长为XXX纳米的玻璃过滤器,如WBS320、WBS350、WBS375,通常与SED005探头组合

TBLU:蓝色滤光片和危险过滤器,安装用于硅探测器; 

UVF:平坦响应曲线探头,用于UV LED固化测量;

W扩撒器:用于ILT探测器的固体石英内半球扩散器,用于200-2100 nm的余弦响应

A313:扁平石英分散器,安装在A311空的过滤器环(高达4mm厚的过滤器)中

TD扩撒器:用于ILT探测器的圆顶式聚四氟乙烯扩散器,用于250-700 nm的光谱范围

AT衰减器帽:提供X10衰减,没有螺纹,滑到探测器的末端

QT:11mm特氟龙石英窗口扩散器Teflon/quartz 11 mm Window Diffuser;

XIR校准选项:

X Irradiance Response (amps)(cm2)(watt-1)

At Specified Wavelength X ,Within The Bandwidth of An IL detector, such as XIR395 for calibration at 395nm

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