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美国International Light XSD340A 紫外辐照计说明书

International Light ILT2400辐照计和XSD340A探头组成的测量系统可用于PCB印刷线路板光刻胶工艺,可测量320-475nm光阻剂作用光谱,校准于405nm,光探测器可承受辐照强度范围8e-7至10W/cm2,NIST可溯源ISO17025认证校准报告,保证测量结果精确可靠。关于美国International Light XSD340A 紫外辐照计详细产品介绍请点击图片或网址http://m.testeb.com/XSD340A.html

美国International Light XSD340A紫外辐照计 美国International Light XSD340A 紫外辐照计

 

 

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