美国International Light XSD340A 紫外辐照计说明书

International Light ILT2400辐照计和XSD340A探头组成的测量系统可用于PCB印刷线路板光刻胶工艺，可测量320-475nm光阻剂作用光谱，校准于405nm，光探测器可承受辐照强度范围8e-7至10W/cm2，NIST可溯源ISO17025认证校准报告，保证测量结果精确可靠。关于美国International Light XSD340A 紫外辐照计详细产品介绍请点击图片或网址http://m.testeb.com/XSD340A.html

美国International Light XSD340A 紫外辐照计

XSD340A说明书文档下载地址

美国International Light XSD340A 紫外辐照计规格说明文档下载链接地址http://www.testeb.com/download/201805/ILT2400_Quick_Manual.pdf。（注）点击链接可直接阅读文档，或右键选择“另存为”保存到电脑。