美国International Light XSD340B 紫外辐照计说明书

国际光学International Light ILT2400和XSD340B光刻胶测量系统用于326-401nm波段紫外线辐照度监测，校准于365nm光阻剂作用光谱，精确地知道光致抗蚀剂曝光的程度，可测量高达30W/cm2 高强度，用于PCB印刷电路板光及半导体业。关于美国International Light XSD340B 紫外辐照计详细产品介绍请点击图片或网址http://m.testeb.com/XSD340B.html

美国International Light XSD340B 紫外辐照计

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