美国ILT2400紫外辐照计XSD340AT7探头XIR395nm波长校准片
International Light ILT2400辐照计及XSD340AT7探头响应范围320-475nm、XIR395校准片用于精确测量395nm波长曝光强度等级和曝光时间，测量速度高达100μs，内置可充电电池持续长达8小时，4.3寸触摸屏显示，可横向和纵向观看，带NIST可溯源ISO17025认证校准证书。
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美国International Light ILT2400辐照计可自由配置光探测器、输入光学器件、过滤片和校准片，用于测量Watts瓦特, Lumens流明, Watt/cm2瓦特/平方厘米, lux勒克斯和foot-candles等光学参数。测量速度高达100μs，内置可充电电池持续长达8小时，4.3寸触摸屏显示，可横向和纵向观看，以手持价格研究质量。
ILT2400+XSD340AT7+XIR395辐照测量系统方案包含ILT2400测光表以及校准于395nm波长的XSD340AT7探头光谱响应320-475nm，专门用于精确测量控制作用波长为395nm曝光机设备UV固化工艺的曝光强度等级和曝光时间，辐照度量程8e-6 ~ 60 W/cm²，仪器及探头均附带NIST可溯源ISO17025认证校准证书。XIR395为IL探头辐照度响应校准选项，校准于395nm中心波长。X Irradiance Response (amps)(cm2)(watt-1)，At Specified Wavelength X ,Within The Bandwidth of An IL detector, Calibration At 395nm。
International Light UV固化曝光测量仪探头选型表
| 辐照计探头组合 | 响应波长频谱 | 测量范围 | 类型及应用 |
|
ILT800 CureRight Radiometer ILT800-UVA：315-390 nm ILT800-BAV：275-475 nm ILT800-UV：250-400 nm ILT800-UVC：215-350 nm ILT800-UVF：平坦响应 360-400 nm Flat, (275-450nm) |
315-475 nm | 5e-3 ~ 40 W/cm2 |
扁平，UV固化/UV LED，UV烤箱 输送带曝光机辐射 |
| ILT2400, XSD340AT7 | 320-475 nm | 8e-6 ~ 60 W/cm² | 手持式，UV固化，3D打印机 |
| ILT2400, XSD340AT7, XIR395 |
320-475 nm 395nm校准 |
8e-6 ~ 60 W/cm² | 手持式，UV固化等，校准于395nm |
| ILT5000, SED005/WBS320/W | 250-400 nm | 2.33e-8 ~ 2.33 W/cm² | 台式/实验室，UV固化，宽带紫外线 |
| ILT1700, SED005/WBS320/W | 250-400 nm | 2.33e-9 ~ 2.33 W/cm² | 台式/实验室，UV固化，宽带紫外线 |
| ILT2400, SED005/WBS320/W | 250-400 nm | 1e-7 ~ 1 W/cm² | 手持式，UV固化，宽带紫外线 |
| ILT1000/WBS320/T1MM | 250-400 nm | 7e-5 ~ 1e3 W/cm² | 手持式，UV固化，宽带紫外线 |
| ILT5000, SED005/NS335/W | 330-340 nm | 5e-9 ~ 5 W/cm² | 台式/实验室，UV固化，窄带335 |
| ILT1700, SED005/NS335/W | 330-340 nm | 1e-8 ~ 5 W/cm² | 台式/实验室，UV固化，窄带335 |
| ILT2400, SED005/NS335/W | 330-340 nm | 5e-7 ~ 5 W/cm² |
手持式，紫外线固化，光辐射危害测量， 窄带335 |
| ILT5000/SED270/QT | 215-350 nm | 1e-9 ~ 1 W/cm² | 台式/实验室，UV固化，UV LED |
| ILT5000, SED033/B/QNDS2/W | 326-401 nm | 3e-8 ~ 20 W/cm² | 台式/实验室，UV固化，氙气闪光灯 |
| ILT1700, SED033/B/QNDS2/W | 326-401 nm | 5.7e-8 ~ 57 W/cm² | 台式/实验室，UV固化，氙气闪光灯 |
| ILT5000, SED005/WBS320/RAMP | 250-400 nm | 5e-7 ~ 100 W/cm² | 台式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT2400, SED005/WBS320/RAMP | 250-400 nm | 5e-7 ~ 100 W/cm² | 手持式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT1700, SED005/WBS320/RAMP | 250-400 nm | 8e-6 ~ 10 W/cm² | 台式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT1700, SSD001A | 250-400 nm | 2.22e-7 ~ 0.9 W/cm² | 台式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT2400, SSD001 | 260-400 nm | 6e-6 ~ 0.9 W/cm² | 手持式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT1700, SED033/TBLU/T1MM | 370-515 nm | 1.3e-7 ~ 12.9 W/cm² | 台式，UV固化，Dental curing牙科治疗 |
| ILT2400/SED270/QT | 215-350 nm | 7e-8 ~ 1 W/cm2 | 手持式，UV固化，UV-LED固化能量计 |
| ILT2400, SED005/UVF/A313 | 275-450 nm | 5e-8 ~ 0.8 W/cm2 | 手持式，UV固化，UV-LED辐照度计 |
| ILT2400, XSD005UVF薄型探头 | 275-450 nm | 5e-8 ~ 0.8W/cm2 | 350-410nm波段UV-LED固化能量计 |
| ILT5000, SED005/NS335-II/W | 327-342 nm | 3e-9 ~ 2 W/cm2 | 台式/实验室，UV固化，窄带335 |
| ILT2400, SED005/NS335-II/W | 327-342 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm2 | 手持式，UV固化，窄带335 |
| ILT2470XE UV Flash Meter | 215-350 nm | 7e-5 ~ 2 W/cm2 | 手持式，UV固化，闪烁/脉冲或CW光源 |
美国International Light光探测器探头滤片/输入元件/校准项代码解析
A光刻胶过滤器：定制滤波器设计用于提供硅传感器的“A”响应（320-475 nm）
B光阻过滤器：滤波器旨在提供硅探测器的“B”响应（326-401 nm）
NS185窄带滤光片：紫外线，中心波长为185nm的干涉滤光片
NSXXX UV窄带滤光片：中心波长为XXX纳米的干涉滤光片，如NS254、NS313、NS335、NS365
QNDS1中性密度滤光片，10倍衰减；QNDS2 100倍、QNDS3 1000倍衰减过滤片
WBSXXX宽带滤光片：中心波长为XXX纳米的玻璃过滤器，如WBS320、WBS350、WBS375，通常与SED005探头组合
TBLU：蓝色滤光片和危险过滤器，安装用于硅探测器； UVF：；
W扩撒器：用于ILT探测器的固体石英内半球扩散器，用于200-2100 nm的余弦响应
A313：扁平石英分散器，安装在A311空的过滤器环（高达4mm厚的过滤器）中
TD扩撒器：用于ILT探测器的圆顶式聚四氟乙烯扩散器，用于250-700 nm的光谱范围
AT衰减器帽：提供X10衰减，没有螺纹，滑到探测器的末端
QT：11mm特氟龙石英窗口扩散器Teflon/quartz 11 mm Window Diffuser； T1MM：；
XIR校准选项：
X Irradiance Response (amps)(cm2)(watt-1)
At Specified Wavelength X ,Within The Bandwidth of An IL detector, such as XIR395 for calibration at 395nm
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