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时代仪器测厚仪TT230

时代涂层测厚仪TT230表面漆膜涂镀层测厚仪

北京时代TT230氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪,采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。

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测头类型:N

测量原理:电涡流

测量范围: 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)

低限分辨力:1µm(10um以下为0.1um)

探头连接方式:一体化

示值误差:

一点校准(um):±[3%H+1.5]

两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5]

测量条件:

最小曲率半径(mm):凸3 | 凹10

基体最小面积的直径(mm):ф5

最小临界厚度(mm):0.3

温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH

统计功能:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差

工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)

 

TT230涂层测厚仪符合以下标准: GB/T 4957-1985 涡流方法、JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》、JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪。仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量,广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

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